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簡(jiǎn)要描述：CC余弦校正器是一款用于光譜輻射取樣的光學(xué)元件，核心優(yōu)勢(shì)是收集 180° 立體角內(nèi)的輻射，消除取樣裝置幾何結(jié)構(gòu)限制導(dǎo)致的光學(xué)耦合問(wèn)題，保障光線采集均勻性，提升光譜測(cè)量準(zhǔn)確性。
產(chǎn)品品牌：其他品牌廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時(shí)間：2025-12-09訪 問(wèn) 量：11詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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CC余弦校正器
CC余弦校正器
CC 余弦校正器是一款用于光譜輻射取樣的光學(xué)元件，核心優(yōu)勢(shì)是收集 180° 立體角內(nèi)的輻射，消除取樣裝置幾何結(jié)構(gòu)限制導(dǎo)致的光學(xué)耦合問(wèn)題，保障光線采集均勻性，提升光譜測(cè)量準(zhǔn)確性。通過(guò)內(nèi)置的朗伯特性漫反射材料，它能夠?qū)?lái)自半球空間內(nèi)的入射光均勻化，從而消除因探頭方向性、幾何限制和光學(xué)耦合不確定性所帶來(lái)的測(cè)量誤差，是實(shí)現(xiàn)精確、可重復(fù)輻照度測(cè)量的基礎(chǔ)工具。
核心信息
l 180° 接收視場(chǎng) (Field of View): 能夠采集來(lái)自完整半球空間（2π立體角）的光信號(hào)，適用于環(huán)境光、大面積光源及漫射光源的測(cè)量。
l 精確的余弦響應(yīng): 探頭對(duì)光的響應(yīng)強(qiáng)度與入射光角度的余弦值成正比，模擬了平面探測(cè)器接收輻射照度的物理模型，確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性。
l 消除方向依賴性: 解決了裸光纖因數(shù)值孔徑（NA）限制而導(dǎo)致的角度敏感問(wèn)題，使測(cè)量結(jié)果對(duì)探頭擺放位置和角度的微小變化不敏感，提高了測(cè)量的可重復(fù)性。
l 標(biāo)準(zhǔn)接口: 采用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的 SMA905 接口，可與絕大多數(shù)商用光譜儀和光纖附件直接連接，具備良好的兼容性。
l 寬光譜范圍: 提供多種散射材料選項(xiàng)，覆蓋從紫外（UV）到近紅外（NIR）的寬廣波段，滿足不同應(yīng)用需求。
產(chǎn)品規(guī)格
l 視場(chǎng)角：180°
l 散射材料：UV-VIS 或 VIS-NIR
l 波長(zhǎng)范圍：200~2500nm
詳細(xì)參數(shù)
產(chǎn)品參數(shù) | 具體數(shù)值 |
接口 | SMA 905 |
波長(zhǎng)范圍 | 200-2500nm |
視場(chǎng)角 | 180° |
應(yīng)用領(lǐng)域
作為光譜輻射取樣的關(guān)鍵光學(xué)元件，可廣泛應(yīng)用于需要精準(zhǔn)采集光線的光譜測(cè)量場(chǎng)景。通過(guò)高效收集 180° 立體角內(nèi)的輻射，消除光學(xué)耦合干擾，確保光線采集均勻，為光譜分析提供可靠的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。
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