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| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 綜合 |
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HS2048高分辨微型光譜儀
HS2048高分辨微型光譜儀
HS2048 是一款結構小巧的微型光纖光譜儀，光譜范圍可靈活配置，核心優勢突出 —— 高分辨率達～0.07nm，雜散光低于 0.1%，波長溫漂僅～0.1pixel/℃。適配激光測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等多個工業現場場景，是高性價比的工業級光纖光譜儀。
核心產品規格
關鍵配置
l 低雜散光設計：采用優質光學元器件、特殊消光工藝及優化光路，雜散光低至 0.1% 以下，提升光譜純度與檢測精度；
l 超高分辨率：搭載傳統長焦 CT 光路，配合精密光學設計與高性能光柵，分辨率可達 0.07nm；
l 低溫漂穩定：波長溫漂～0.1pixel/℃，減少環境溫度對檢測結果的影響；
l 紫外響應優異：配備紫外高靈敏檢測器，輸出低噪聲、高信噪比的準確光譜信號，適配高精度分析；
l 光纖適配性強：可搭配多芯密排集束光纖，光纖插拔強度一致性≤7%；
l 低噪表現：CCD 量化背景噪聲≤30RMS（最短積分時間）；
l 接口完備：配置 USB2.0、RS232 通訊接口及 24PIN 交互接口，內置專有 DAC 和 ADC，可實現配套光源的使能、強度控制及功率反饋；
l 采集模式多樣：支持單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發。
詳細參數表
參數類別 | 具體指標 |
產品型號 | HS2048 |
光纖接口 | Key-SMA905 |
像元通道數 | 2048 |
雜散光 | <0.1% |
波長溫漂 | ~0.1pixel/℃ |
光纖插拔一致性 | ≤7% |
AD 采樣 | 16 bit |
數據接口 | USB2.0、RS232 |
擴展功能接口 | 24PIN |
采集模式 | 單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發 |
檢測器積分時間 | 60us-65s |
外觸發時延準確性 | 10 ns |
CCD 讀出噪聲（最小積分時間，均方根） | ≤30 RMS |
CCD 動態范圍（最小積分時間，(飽和值 - 暗噪基線)/CCD 讀出噪聲標準差） | 3000:1 |
信噪比 | 380:1 |
響應線性度（校準前） | ≥98% |
物理參數 |
|
重量 | 260g |
工作溫度 | 0℃~40℃ |
工作濕度 | 20%-85% |
產品配置表
規格型號 | 起始波長（nm） | 截止波長（nm） | 光譜分辨率（nm）@不同狹縫寬度 | ||||
10um | 25um | 50um | 100um | 200um | |||
HS2048-200-800 | 200 | 800 | 0.90 | 1.00 | 1.40 | 2.40 | 3.50 |
HS2048-350-940 | 350 | 940 | 0.80 | 1.00 | 1.50 | 2.40 | 3.60 |
HS2048-200-1100 | 200 | 1100 | 1.00 | 1.80 | - | 3.00 | 4.20 |
HS2048-350-1050 | 350 | 1050 | 0.90 | 1.00 | 1.60 | 2.80 | 4.00 |
定制說明
l 光譜實際分辨率不高于標值的 120%；
l 光譜范圍、分辨率等參數可根據客戶實際應用場景定制。
* 光譜實際分辨率不高于標值的 120%
* 光譜儀可根據客戶需求定制光譜范圍、分辨率等參數
主要應用領域
光譜儀測激光器線寬
激光器線寬是描述激光器性能的重要參數，是指激光器輸出的激光頻率的寬度。線寬越窄，激光的單色性越好，頻率穩定性越高。我們可以使用光譜儀來測量激光器的線寬，適用于激光器生產廠家、科研場所等。
激光波長測量圖譜
半導體刻蝕終點判斷
光譜儀在半導體刻蝕工藝中用于終點判斷，通過實時監測等離子體刻蝕過程中產生 的光譜信號變化，識別不同材料層的特征輻射峰。當光譜信號中的特征峰強度或位置發生預定變化時，系統判定刻蝕達到終點。這種方法具備高精度、實時性和非接觸性。廣泛應用于半導體制造中的多層結構刻蝕控制。
再結晶鎢在氣體為 He、0.1 Pa、700W、250V 條件下鎢粒子的發射光譜
膜厚測量
基于光的干涉原理，當光照射到薄膜上時，部分光會在膜的上下界面發生反射和透射，形成干涉條紋。通過測量薄膜在不同波長下的反射或透射光譜，分析干涉條紋的頻率和幅度變化，可以計算出薄膜的厚度。
膜厚測量
火焰光譜檢測
在紫外 - 可見 - 近紅外內實現光強探測，可獲取火焰在特定平面的相對光強和光譜分布。
火焰光譜檢測
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